2-5 細径ワーク測定テクニック
LS7シリーズで最小検出体以下の細径ワークを測定する場合、
以下の項目にご注意ください。
①測定対象物をピントが合う位置に設置します。
2
※LS7シリーズは測定原理がカメラ方式ですので、
ピントが合う位置が重要です。
（2-7ページ参照）
寸法測定器を 活用するために
ピントが合う
受光部
Ｒヘッド Ｔヘッド
ＬＳ７０７０：１５０ｍｍ
ＬＳ７０３０：８０ｍｍ
ＬＳ７０１０：３０ｍｍ
ピントが合う位置では受光波形変化はシャープになります。
ピントがずれると受光波形変化がなまりますので、
エッジ検出が困難になります。
ピントが合う位置 ピントが合っていない位置
受光波形 受光波形
エッジ検出
しきい値レベル
受光波形がなまり、エッジ検出が
出来ません
細径ワーク
②エッジ検出しきい値を大きく設定します。
スペックの最小検出体以下のものを測定したい場合は、
エッジ検出しきい値レベルを大きく設定してください。
最小検出体より 最小検出体より
大きいワーク 小さいワーク
受光波形 受光波形
エッジ検出
しきい値レベル
エッジ検出しきい値レベルを変更
2-9
2-5 細径ワーク測定テクニック
LS7シリーズで最小検出体以下の細径ワークを測定する場合、以下の項目にご注意
ください。
2
①測定対象物をピントが合う位置に設置します。
※LS7シリーズは測定原理がカメラ方式ですので、
ピントが合う位置が重要です。
寸法測定器を 活用するために
（2-7ページ参照）
ピントが合う
受光部
Ｒヘッド Ｔヘッド
ＬＳ７０７０：１５０ｍｍ
ＬＳ７０３０：８０ｍｍ
ＬＳ７０１０：３０ｍｍ
ピントが合う位置では受光波形変化はシャープになります。
ピントがずれると受光波形変化がなまりますので、
エッジ検出が困難になります。
ピントが合う位置 ピントが合っていない位置
受光波形 受光波形
エッジ検出
しきい値レベル
受光波形がなまり、エッジ検出が
出来ません
細径ワーク
②エッジ検出しきい値を大きく設定します。
スペックの最小検出体以下のものを測定したい場合は、
エッジ検出しきい値レベルを大きく設定してください。
最小検出体より 最小検出体より
大きいワーク 小さいワーク
受光波形 受光波形
エッジ検出
しきい値レベル
エッジ検出しきい値レベルを変更
2-9
2-5 細径ワーク測定テクニック
LS7シリーズで最小検出体以下の細径ワークを測定する場合、以下の項目にご注意
ください。
2
①測定対象物をピントが合う位置に設置します。
※LS7シリーズは測定原理がカメラ方式ですので、
ピントが合う位置が重要です。
寸法測定器を 活用するために
（2-7ページ参照）
ピントが合う
受光部
Ｒヘッド Ｔヘッド
ＬＳ７０７０：１５０ｍｍ
ＬＳ７０３０：８０ｍｍ
ＬＳ７０１０：３０ｍｍ
ピントが合う位置では受光波形変化はシャープになります。
ピントがずれると受光波形変化がなまりますので、
エッジ検出が困難になります。
ピントが合う位置 ピントが合っていない位置
受光波形 受光波形
エッジ検出
しきい値レベル
受光波形がなまり、エッジ検出が
出来ません
細径ワーク
②エッジ検出しきい値を大きく設定します。
スペックの最小検出体以下のものを測定したい場合は、
エッジ検出しきい値レベルを大きく設定してください。
最小検出体より 最小検出体より
大きいワーク 小さいワーク
受光波形 受光波形
エッジ検出
しきい値レベル
エッジ検出しきい値レベルを変更
2-9
2-5 細径ワーク測定テクニック
LS7シリーズで最小検出体以下の細径ワークを測定する場合、以下の項目にご注意
ください。
2
①測定対象物をピントが合う位置に設置します。
※LS7シリーズは測定原理がカメラ方式ですので、
ピントが合う位置が重要です。
寸法測定器を 活用するために
（2-7ページ参照）
ピントが合う
受光部
Ｒヘッド Ｔヘッド
ＬＳ７０７０：１５０ｍｍ
ＬＳ７０３０：８０ｍｍ
ＬＳ７０１０：３０ｍｍ
ピントが合う位置では受光波形変化はシャープになります。
ピントがずれると受光波形変化がなまりますので、
エッジ検出が困難になります。
ピントが合う位置 ピントが合っていない位置
受光波形 受光波形
エッジ検出
しきい値レベル
受光波形がなまり、エッジ検出が
出来ません
細径ワーク
②エッジ検出しきい値を大きく設定します。
スペックの最小検出体以下のものを測定したい場合は、
エッジ検出しきい値レベルを大きく設定してください。
最小検出体より 最小検出体より
大きいワーク 小さいワーク
受光波形 受光波形
エッジ検出
しきい値レベル
エッジ検出しきい値レベルを変更
2-9
2-5 細径ワーク測定テクニック
LS7シリーズで最小検出体以下の細径ワークを測定する場合、
以下の項目にご注意ください。
①測定対象物をピントが合う位置に設置します。
2
※LS7シリーズは測定原理がカメラ方式ですので、
ピントが合う位置が重要です。
（2-7ページ参照）
寸法測定器を 活用するために
ピントが合う
受光部
Ｒヘッド Ｔヘッド
ＬＳ７０７０：１５０ｍｍ
ＬＳ７０３０：８０ｍｍ
ＬＳ７０１０：３０ｍｍ
ピントが合う位置では受光波形変化はシャープになります。
ピントがずれると受光波形変化がなまりますので、
エッジ検出が困難になります。
ピントが合う位置 ピントが合っていない位置
受光波形 受光波形
エッジ検出
しきい値レベル
受光波形がなまり、エッジ検出が
出来ません
細径ワーク
②エッジ検出しきい値を大きく設定します。
スペックの最小検出体以下のものを測定したい場合は、
エッジ検出しきい値レベルを大きく設定してください。
最小検出体より 最小検出体より
大きいワーク 小さいワーク
受光波形 受光波形
エッジ検出
しきい値レベル
エッジ検出しきい値レベルを変更
2-9
2-7 隙間測定テクニック
LS7シリーズで最小検出体の寸法に近い隙間を測定する場合、以下の項目にご注意ください。
①測定対象物をピントが合う位置に設置します。
2
※LS7シリーズは測定原理がカメラ方式ですので、ピントが合う位置が重要です。
（2-7ページ参照）
寸法測定器を 活用するために
ピントが合う
受光部
Ｒヘッド Ｔヘッド
ＬＳ７０７０：１５０ｍｍ
ＬＳ７０３０：８０ｍｍ
ＬＳ７０１０：３０ｍｍ
ピントが合う位置では受光波形変化はシャープになります。
ピントがずれると受光波形変化がなまりますので、
隙間測定が困難になります。
ピントが合う位置 ピントが合っていない位置
受光波形がなまり、
受光波形 隙間 受光波形
明 隙間の検出が出来ません
エッジ検出
しきい値レベル
暗
②エッジ検出しきい値を小さく設定します。
小さな隙間を測定する場合はエッジ検出しきい値レベルを小さく設定してください。
大きな隙間 小さな隙間
受光波形 隙間
エッジ検出のしきい値
明 レベルを小さく設定
エッジ検出
しきい値レベル
暗
2-11
2-7 隙間測定テクニック
LS7シリーズで最小検出体の寸法に近い隙間を測定する場合、以下の項目にご注意ください。
①測定対象物をピントが合う位置に設置します。
2
※LS7シリーズは測定原理がカメラ方式ですので、ピントが合う位置が重要です。
（2-7ページ参照）
寸法測定器を 活用するために
ピントが合う
受光部
Ｒヘッド Ｔヘッド
ＬＳ７０７０：１５０ｍｍ
ＬＳ７０３０：８０ｍｍ
ＬＳ７０１０：３０ｍｍ
ピントが合う位置では受光波形変化はシャープになります。
ピントがずれると受光波形変化がなまりますので、
隙間測定が困難になります。
ピントが合う位置 ピントが合っていない位置
受光波形がなまり、
受光波形 隙間 受光波形
明 隙間の検出が出来ません
エッジ検出
しきい値レベル
暗
②エッジ検出しきい値を小さく設定します。
小さな隙間を測定する場合はエッジ検出しきい値レベルを小さく設定してください。
大きな隙間 小さな隙間
受光波形 隙間
エッジ検出のしきい値
明 レベルを小さく設定
エッジ検出
しきい値レベル
暗
2-11
2-7 隙間測定テクニック
L S 7 シリーズで最小検出体の寸法に近い隙間を測定する場合、以下の項目にご注意
ください。
2
①測定対象物をピントが合う位置に設置します。
※LS7シリーズは測定原理がカメラ方式ですので、ピントが合う位置が重要です。
寸法測定器を 活用するために
（2-7ページ参照）
ピントが合う
受光部
Ｒヘッド Ｔヘッド
ＬＳ７０７０：１５０ｍｍ
ＬＳ７０３０：８０ｍｍ
ＬＳ７０１０：３０ｍｍ
ピントが合う位置では受光波形変化はシャープになります。
ピントがずれると受光波形変化がなまりますので、
隙間測定が困難になります。
ピントが合う位置 ピントが合っていない位置
受光波形がなまり、
受光波形 隙間 受光波形
明 隙間の検出が出来ません
エッジ検出
しきい値レベル
暗
②エッジ検出しきい値を小さく設定します。
小さな隙間を測定する場合はエッジ検出しきい値レベルを小さく設定してください。
大きな隙間 小さな隙間
受光波形 隙間
エッジ検出のしきい値
明 レベルを小さく設定
エッジ検出
しきい値レベル
暗
2-11
2-7 隙間測定テクニック
L S 7 シリーズで最小検出体の寸法に近い隙間を測定する場合、以下の項目にご注意
ください。
2
①測定対象物をピントが合う位置に設置します。
※LS7シリーズは測定原理がカメラ方式ですので、ピントが合う位置が重要です。
寸法測定器を 活用するために
（2-7ページ参照）
ピントが合う
受光部
Ｒヘッド Ｔヘッド
ＬＳ７０７０：１５０ｍｍ
ＬＳ７０３０：８０ｍｍ
ＬＳ７０１０：３０ｍｍ
ピントが合う位置では受光波形変化はシャープになります。
ピントがずれると受光波形変化がなまりますので、
隙間測定が困難になります。
ピントが合う位置 ピントが合っていない位置
受光波形がなまり、
受光波形 隙間 受光波形
明 隙間の検出が出来ません
エッジ検出
しきい値レベル
暗
②エッジ検出しきい値を小さく設定します。
小さな隙間を測定する場合はエッジ検出しきい値レベルを小さく設定してください。
大きな隙間 小さな隙間
受光波形 隙間
エッジ検出のしきい値
明 レベルを小さく設定
エッジ検出
しきい値レベル
暗
2-11
2-7 隙間測定テクニック
L S 7 シリーズで最小検出体の寸法に近い隙間を測定する場合、以下の項目にご注意
ください。
2
①測定対象物をピントが合う位置に設置します。
※LS7シリーズは測定原理がカメラ方式ですので、ピントが合う位置が重要です。
寸法測定器を 活用するために
（2-7ページ参照）
ピントが合う
受光部
Ｒヘッド Ｔヘッド
ＬＳ７０７０：１５０ｍｍ
ＬＳ７０３０：８０ｍｍ
ＬＳ７０１０：３０ｍｍ
ピントが合う位置では受光波形変化はシャープになります。
ピントがずれると受光波形変化がなまりますので、
隙間測定が困難になります。
ピントが合う位置 ピントが合っていない位置
受光波形がなまり、
受光波形 隙間 受光波形
明 隙間の検出が出来ません
エッジ検出
しきい値レベル
暗
②エッジ検出しきい値を小さく設定します。
小さな隙間を測定する場合はエッジ検出しきい値レベルを小さく設定してください。
大きな隙間 小さな隙間
受光波形 隙間
エッジ検出のしきい値
明 レベルを小さく設定
エッジ検出
しきい値レベル
暗
2-11
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